- DRAM의 재료 : Single Crystalline Si로 현재 wafer는 300mm에서 450mm 로 양산이 변경되는 추세이다.
위 사진은 Wafer Shot Map으로 각각의 칸은 Chip을 나타내며, Chip에는 여러개의 Die와 Scribe line이 존재한다.
Scribe Lane은 Chip들을 구분하는 역할도 하지만, 대표성있는 transistor 1개를 이 영역을 통해 만들어 소자 특성을 확인하거나, Photo Align Key, Etch가 얼마나 되었는지 확인하는 용도로 사용이 가능하다.
불량률은 wafer의 가장자리가 가운데보다 더 높다. 가장자리 부분이 공정에 의해 stress를 받기 때문.
수율은 90%를 목표로 진행한다.
Cell이 1000여개 모인 Block을 BANK라고 하며 Cell한개는 1MB, 한 BLOCK은 1GB, 위의 DRAM은 8GB를 나타낸다고 할 수 있다.
Cell 옆에는 MOSFET을 ON/OFF하는 Word line, 정보를 읽고 쓰는 Bit line이 있으며 두 line은 서로 직교한다. SWD와 BLSA는 각각 Word line의 동작회로, Bit line의 동작회로를 나타낸다.
Peri영역은 회로영역으로 Cell에 신호를 전하기 위한 영역이라고 볼 수 있다.
위에서 말했듯이, WL은 mosfet의 on/off를, BL은 정보의 읽고 쓰기를, 담당한다.
(1) Data 저장 공간 : Cell (1T + 1C)
(2) 스위치 선택 회로 : SWD
(3) Data 증폭기 : BLSA
(4) 주변회로 - Peri
주로 NMOS를 사용하며 4단자로 이루어져 있다. Body부분은 Vth와 leakage current를 제어한다.
1. Word Line : Access transistor Gate Control ( On/Off ), Storage Node High Data 보다 승압된 전원 Level을 사용, Poly-si layer또는 WSi2, W를 사용
2. Bit Line : Data Transfer Line, Read/Write 공용, Half Vcore level Precharge for Power Saving
3. Access Transistor : Switch기능의 NMOS Transistor 1개, Refresh 특성강화 위해 High Vt 설정
4. Capacitor : Data 저장 장소, Storage Node의 Charge량에 의해 Data 유지, Refresh 필요
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